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综合物性测量系统 CPMS-4
电学性能：电导率/电阻率、热电势率/塞贝克系数
热学性能：热导率、热膨胀系数、比热等
温度范围：4K-300K（-269℃—室温）
低温技术：低温制冷机作冷源，无需消耗液氮/液氦
应用领域：低温热电材料、超导材料、低温负热膨胀/零膨胀等功能材料及其它固体材料低温物性研究
概 述:
本系统采用低温制冷机作冷源，无需使用液氮/液氦，实现固体材料低温区（4K-300K; -269℃—室温）的电学性能（电导率/电阻率，热电势率/塞贝克Seebeck系数）和热学性能(热导率、热膨胀系数、比热等)测量。 系统设计思想
在一个以单台或多台制冷机为冷源的低温平台上，集成全自动的电学和热学物性测量手段。使得整个系统的低温环境得到充分利用、极大减少了客户购买仪器的成本、避免实验的繁琐和误差。低温平台与测量平台分离设计，测试样品更换过程变得快捷、方便。 基本系统
硬件结构包括：样品架组件、插入管组件、真空绝热系统、制冷机、减震传热部件、控温部件、干式泵、氦气罐、测控仪表和数据采集处理系统等。基本系统平台提供低温环境，以及测量相关的软硬件控制中心。 样品室
样品室连接在样品架组件上，通过可拆卸方式安装不同物性测量样品台。测量时样品室处于密封的真空状态，样品冷却过程是通过减震传热部件把制冷机冷量传递给样品架组件，再通过测试平台把冷量传递给样品，使样品降温。样品测量采用样品托的方式。 温度控制
采用制冷机直接冷却样品的方式，通过减震传热部件既减少制冷机的轻微震动可能带来的影响，又保证了样品能够快速冷却。通过独特的设计能够实现连续快速精准温度控制。温控范围：4.0K-300K连续控温；温度稳定性：±0.1K(4.0-20K)/ ±0.3K(20-300K)。
技术参数
热导率测量单元
电导率 (电阻率)测量单元
热电势率（Seebeck系数）测量单元
热膨胀系数测量单元
比热测量单元
1、 304不锈钢热导数据测量对照（美国NIST）。最大相对差值小于3 %。
2、304不锈钢电阻率数据测量对照。最大相对差值小于0.1%。
3、热电材料塞贝克系数测定
中国科学院理化技术研究所采用此设备对高压合成法制备的Bi85Sb15低温热电材料的塞贝克系数测试结果
测试单元
（1）电阻率(电导率)测量单元
采用标准的四引线法测量直流电阻率。 • 全自动测量电阻、伏安特性 • 能采用Van Der Pauw方法测量形状不规则但厚度均匀的样品 • 样品通过绝缘胶粘贴在样品台上，通过导电胶粘贴测量引线 • 每次最多可以同时测量三个样品 • 样品安装过程方便、快捷、可靠
（2）热电势率（Seebeck系数）测量单元 采用微分法测量热电势率/塞贝克Seebeck系数。 • 测试温度区间内无级连续控温，并进行连续测量，得到高密度的精确数据 • 全自动控温、测量 • 样品通过导热胶粘贴在样品台上，通过导电胶粘贴测量引线 • 样品尺寸灵活，适用于不同尺寸样品的测量 • 样品安装过程方便、快捷、可靠
（3）热导率测量单元 采用绝热稳态轴向热流法测量热导率。 • 样品室内部多路控温, 最大程度减少样品辐射漏热和样品热端引线漏热 • 测试温度区间内无级连续控温，并进行连续测量，得到高密度的精确数据 • 系统自适应测量过程，适合新型材料物性研究 • 样品尺寸灵活，适用于不同尺寸样品的测量 • 全自动的测量过程，操作简单 • 配备专用样品安装工具，样品安装过程方便、快捷、可靠
（4）热膨胀系数测量单元 采用低温应变传感器法测量热膨胀系数。 • 测试温度区间内无级连续控温，并进行连续测量，得到高密度的精确数据 • 全自动控温、测量 • 样品尺寸灵活，无需制作成长条状或长圆柱状样品，样品只需具备一个大于5mm×5mm的平面就可以测试（其它面可以不规则和不平整），最小样品尺寸可达5mm×5mm×0.5mm • 应变传感器安装于样品试样上 • 每次最多可以同时测量三个样品 • 样品安装过程方便、快捷、可靠 • 可匹配应用于其他品牌综合物性测量系统
(5）比热测量单元 采用热弛豫方法、双τ模式比热测量技术测量比热。 • 在测试温度区间内无级连续控温，并进行连续测量，得到高密度的精确数据 • 全自动控温、测量 • 样品安装过程方便、快捷、可靠
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