技术特点
· 适用于研究开发各种材料和薄膜材料电阻系数
· 高级应用程序控温技术，实时温度程序同步扫描
· 自由升/降温、精确控制温度程序，进行升温、恒温与降温过程中的数据测量
· 自动压力安全保护设计，确保测试过程中不会发生爆炸
· 试样支架采用独特的接触式平衡机构，保证测量的高重现性
· 可选原片状样品测量系统
· 可选高级数据采集技术，避免电路板数据采集技术带来的干扰误差
全球甄选一流供货商，保证系统品质达到最高！
CRA系统硬件组成：
美国吉时利 Keithley（数据采集系统）
德国 W.HALDENWANGER （高温陶瓷系统）
英国摩根Morgan（高温特种材料）
美国通用电气GE（光波加热元件）
英国欧陆（调控器）
日本IKO （精密轴承）
测试性结构图
圆柱形或棱形样品垂直放置在两电极之间，同时整个测量系统设置于一个加热炉内。加热炉加热样品到预定的温度，在此温度下， 直流电四端法测量电阻，样品两端通入恒定电流，测量样品的电压变化， 可以计算出电阻系数。
