技术特点
 
·         适用于研究开发各种材料和薄膜材料电阻系数
·         高级应用程序控温技术，实时温度程序同步扫描
·         自由升/降温、精确控制温度程序，进行升温、恒温与降温过程中的数据测量   
·         自动压力安全保护设计，确保测试过程中不会发生爆炸
·         试样支架采用独特的接触式平衡机构，保证测量的高重现性
·         可选原片状样品测量系统
·         可选高级数据采集技术，避免电路板数据采集技术带来的干扰误差

全球甄选一流供货商，保证系统品质达到最高！

CRA系统硬件组成：

美国吉时利 Keithley（数据采集系统）
德国 W.HALDENWANGER （高温陶瓷系统）
英国摩根Morgan（高温特种材料）
美国通用电气GE（光波加热元件）
英国欧陆（调控器）
日本IKO （精密轴承）
 

测试性结构图
 
圆柱形或棱形样品垂直放置在两电极之间，同时整个测量系统设置于一个加热炉内。加热炉加热样品到预定的温度，在此温度下， 直流电四端法测量电阻，样品两端通入恒定电流，测量样品的电压变化， 可以计算出电阻系数。

 

 

 

 

CRT技术参数

 

型  号	CRA-31	CRA-32
测量范围	0.1 mohm-1 Kohm        0.1 mohm-10 Mohm （高电阻模块）	0.1 mohm-10 Mohm 1 uohm-100 Mohm （高电阻模块）
精度	5%	2%
测量方法	四端法
分辨率	10 nOhm
温度范围	-100°C up to 500°C ；  RT up to 800°C / 1150°C
控温速率	0.01 – 100 K/min
控温精度	+/-0.5K
电流	0 to 160 mA
气氛	减压He、氧化、还原、真空
样品尺寸	直径或正方形：2 to 4 mm；长度：6 to 22 mm
圆片样品	直径： 10-12.7-25.4 mm
主机尺寸	106×54×1450mm
功率	4800W（800℃）；6000W（1150℃）
电源	220V 50Hz（单相）

 

简洁明了的专业软件。

 

 

 

 

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